Laboratorium
Mikroskopii
Laboratorium
Mikroskopii
O laboratorium
Laboratorium oferuje zaawansowaną wizualizację przestrzenną komórek oraz wyznakowanych materiałów (np. nośników leków, mikrosfer, skafoldów) z wykorzystaniem unikatowego mikroskopu konfokalnego z białym laserem, modułem do wysokiej rozdzielczości oraz komorą środowiskową.
Mikroskop umożliwia prowadzenie badań interdyscyplinarnych z pogranicza inżynierii materiałowej, biologii, nanotechnologii i biomedycyny, w tym obrazowanie oddziaływań komórka-biomateriał oraz (bio)materiał-biomolekuła (np. w biosensorach).
Aparatura jest zintegrowana z istniejącym zapleczem.
Wysokorozdzielczy transmisyjny mikroskop elektronowy
Analiza strukturalna i chemiczna materiałów na poziomie molekularnym z wykorzystaniem HRTEM
Nazwa urządzenia:
Wysokorozdzielczy transmisyjny mikroskop elektronowy Spectra 300 (Thermo Fisher Scientific)
Parametry urządzenia:
Układ optyczny
- Szeroki zakres napięć roboczych: Elastyczna operacyjność w przedziałach od 30 kV do 300 kV (zoptymalizowana praca przy 60, 80, 200 i 300 kV). Umożliwia to badanie zarówno twardych struktur kompozytowych (300 kV), jak i materiałów wrażliwych na wiązkę elektronów, takich jak biopolimery czy delikatne nano-opakowania (przy obniżonym napięciu 60–80 kV).
- Źródło elektronów (FEG): Wyposażenie w ultra-stabilne źródło polowe (X-FEG Mono lub X-FEG UltiMono) o ekstremalnie niskim rozrzucie energii (rozdzielczość energetyczna poniżej 25 meV), co jest kluczem do zaawansowanej spektroskopii strat energii elektronów (EELS).
- Podwójna korekcja aberracji (Double Corrector): Spectra 300 charakteryzuje się opcjonalną korekcją aberracji sferycznej zarówno w modzie transmisyjnym (S-CORR dla TEM), jak i skaningowo-transmisyjnym (CEOS dla STEM).
- Rekordowa rozdzielczość przestrzenna STEM: Zdolność rozdzielcza osiąga wartości poniżej 50 pikometrów (pm) przy napięciu 300 kV, co pozwala na bezpośrednie obrazowanie pojedynczych kolumn atomowych i defektów sieci krystalicznej ciał stałych.
- System detekcji EDS (Dual-X / Super-X): Ultra-czuły układ detektorów rentgenowskich z dyspersją energii o dużym kącie bryłowym (do 0.7-1.0 sr). Umożliwia błyskawiczne mapowanie pierwiastkowe o wysokiej czułości, niezbędne przy analizie mikroobszarów i domieszkowania (np. atomami azotu).
- Zintegrowana spektroskopia EELS: Kompatybilność z najnowszymi filtrami energii (Gatan Continuum), co pozwala na precyzyjną analizę stanów utlenienia pierwiastków, mapowanie pasm wzbronionych oraz identyfikację lekkich pierwiastków (B, C, N, O) na poziomie atomowym.
- Ultra-stabilna platforma mechaniczna: Całkowicie przeprojektowana obudowa mikroskopu, która minimalizuje wpływ dryftu termicznego oraz drgań akustycznych i mechanicznych otoczenia.
Opis usługi:
Usługa polega na obrazowaniu struktury materiałów na poziomie molekularnym oraz analizie ich składu chemicznego z wykorzystaniem wysokorozdzielczego transmisyjnego mikroskopu elektronowego (HRTEM) o mocy 200 kV.
Dzięki zaawansowanej konfiguracji (EDS, EELS, holder in-situ, ultramikrotom, polerka jonowa) możliwe jest prowadzenie badań nad nowymi materiałami, ich stabilnością, degradacją, a także interakcjami z mikroorganizmami – w czasie rzeczywistym.
Zakres usługi:
- obrazowanie struktury materiałów na poziomie molekularnym,
- analiza jakościowa i ilościowa składu pierwiastkowego (EDS, EELS),
- mapowanie dystrybucji pierwiastków i faz w próbce,
- badania in-situ – obserwacja zmian w czasie rzeczywistym,
- analiza interakcji nanomateriałów z mikroorganizmami,
- przygotowanie próbek (materiały miękkie i twarde) – ultramikrotom, polerka jonowa,
- badania stabilności materiałów, migracji atomów, degradacji i przemian fazowych,
- analiza skuteczności domieszkowania (np. atomami azotu) w materiałach elektrochemicznych.
Skaningowy mikroskop elektronowy
Analiza morfologii i składu pierwiastkowego materiałów z wykorzystaniem SEM/EDX/WDX
Nazwa urządzenia:
Skaningowy mikroskop elektronowy z detektorami dyspersji energii i długości fali promieniowania rentgenowskiego Apreo S LoVac (Thermo Fisher Scientific Inc.)
Parametry urządzenia:
- gwarantowana rozdzielczość rzędu 0,5 nm (przy 15 kV) oraz 0,9 nm (przy 1 kV), co pozwala na obrazowanie struktur na poziomie nanometrycznym,
- powiększenie od ok. 5x do 2 000 000x, umożliwiające płynne przejście od skali mikro do nano,
- obrazowanie (SEM): Układ wielu detektorów, w tym detektory wtórne (SE), wstecznie rozproszone (BSE) oraz detektory wewnątrzosiowe (In-lens) dla uzyskania najwyższego kontrastu powierzchniowego,
- spektroskopia EDX (EDS): Detektor dyspersji energii (np. Bruker XFlash), umożliwiający szybką identyfikację jakościową i ilościową składu pierwiastkowego (od boru do uranu) oraz mapowanie rozkładu pierwiastków w czasie rzeczywistym,
- spektroskopia WDX (WDS): Spektrometr dyspersji fali rentgenowskiej, zapewniający znacznie wyższą rozdzielczość energetyczną niż EDX. Pozwala na rozdzielenie pokrywających się pików (np. Mo/S, Ti/Ba) oraz precyzyjną detekcję pierwiastków śladowych.
Opis usługi:
Usługa polega na obrazowaniu morfologii oraz analizie składu pierwiastkowego materiałów przewodzących i nieprzewodzących z wykorzystaniem skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) wyposażonego w detektory EDX i WDX. Dzięki wysokiej rozdzielczości oraz możliwości mapowania pierwiastków, mikroskop umożliwia szczegółową analizę mikro- i nanomateriałów do zastosowań w inżynierii materiałowej, biologii, medycynie i innych dziedzinach.
Usługa obejmuje obrazowanie morfologii oraz analizę składu pierwiastkowego materiałów przewodzących i nieprzewodzących z wykorzystaniem skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) wyposażonego w detektory EDX (dyspersji energii) oraz WDX (dyspersji długości fali promieniowania rentgenowskiego). Dzięki pracy w trybie LoVac (niskiej próżni) możliwe są obrazowanie i analiza także próbek nieprzewodzących przy ograniczonym ładowaniu powierzchni, często z minimalnym przygotowaniem próbki. Dzięki wysokiej rozdzielczości oraz możliwości wykonywania analiz punktowych, liniowych i map rozkładu pierwiastków, mikroskop umożliwia szczegółową charakterystykę mikro- i nanostruktury badanych próbek, m.in. w obszarach inżynierii materiałowej, nauk chemicznych, biologii i medycyny.
Zakres usługi:
- obrazowanie morfologii i struktury powierzchni materiałów (analiza topografii, defektów, pęknięć, porowatości),
- badania materiałów przewodzących i nieprzewodzących (w razie potrzeby z zastosowaniem napylania warstwy przewodzącej),
- mikroanaliza rentgenowska (EDX/WDX):
- analiza punktowa,
- analiza liniowa (profile pierwiastkowe),
- mapowanie rozkładu pierwiastków.
- identyfikacja warstw i granic fazowych w kompozytach oraz materiałach wielowarstwowych,
- analiza materiałów: metalicznych, ceramicznych, cementowych, polimerowych oraz biologicznych (zależnie od właściwości próbki i sposobu przygotowania),
- możliwość rozszerzenia funkcjonalności stanowiska o osprzęt specjalistyczny (np. manipulatory, uchwyty/holdery dedykowane).
